超声波膜厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。涂层测厚仪：涂层测厚仪有涡流法涂层测厚仪和磁性法涂层测厚仪，本站有两种涂层测厚仪的工作原理，本文不再赘述。所以不论是采用超声波还是磁性法、涡流法的测厚仪都是可以对物体表面的涂层进行测量的，而且都是通过表面探头对物体进行厚度测量，即超声波膜厚仪与涂层测厚仪在某种程度上来说，是一致的。可事实上来说，超声波膜厚仪与涂层测厚仪的区别还是很大的，它们的区别如下：
涂层测厚仪
1、超声波膜厚仪探头需要使用合适的耦合剂，以及是适量的耦合剂；而涂层测厚仪探头在使用过程中是不需要使用耦合剂的。
2、超声波膜厚仪是使用超声波对物体厚度进行测量，需要选择合适的声速；而涂层测厚仪不论是磁性法还是涡流法测厚仪都不需要选择声速。
3、超声波膜厚仪与涂层测厚仪的工作原理不同。
4、超声波膜厚仪在测量涂层厚度时，该涂层为单一化学组成的涂层（方便选择声速），而涂层测厚仪在测量涂层厚度时，需要注意基体性质（Fe和NFe基体），而且对涂层的电性质有一定的要求。
5、超声波膜厚仪的测量范围要比涂层测厚仪更广，涂层测厚仪的测量范围一般在0-1250μm之间。
6、超声波膜厚仪一般国内较少生产，且价格较高，而涂层测厚仪相对来说国内有很多厂家生产，且大多数价格较低。
尽管超声波膜厚仪与涂层测厚仪在测量物体涂层厚度时，都是使用探头测量、都对物体表面的粗糙度有一定的要求、都需要在测量之前进行仪器校准等等相同之处，但两者的本质和很多使用方法上还是有不同的。在进行物体涂层厚度的测量时，涂层测厚仪的使用显得更为简单，性价比也较高，能够满足大部分物体涂层厚度的测量，而且涂层测厚仪精度也较高，无论是操作还是校准速度都快。整体上来说，超声波膜厚仪与涂层测厚仪有相同点也有很大的区别。
