我们知道涂层测厚仪主要是用于测量物体表面涂层的厚度的，这种表面涂层是紧密吸附在物体表面的，两者之间不存在空气。在进行物体表面涂层的厚度时，涂层和物体表面的粗糙度都影响着涂层厚度测量的值，所以我们在测量涂层厚度时，要求物体和涂层表面都是平滑的。如果有一定的粗糙度，那么对于这个涂层的厚度测量时，我们需要进行多次测量，以尽可能的降低测量出现的偏差。对于涂层测厚仪的测量过程，有人会大发奇想，涂层测厚仪能否测量单一物体的厚度呢？
涂层测厚仪产品
其实，就涂层测厚仪测量单一物体的厚度来说是可以实现的。即将这种单一物体放置某种Fe基物体表面，这两种物体表面事先需要进行一定的处理，清除污物后使用夹具将单一物体与Fe物体表面夹紧。如此，便相当于这种单一物体成为了“涂层”。磁性法涂层测厚仪工作原理是，磁性法（F型测头）当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体会构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量磁阻变化可计算出覆盖层的厚度。涡流法(N型测头)就是利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上会产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小即可导出覆盖层的厚度。所以，从理论上来说，就算是单一物体表面与基体之间存在间隙、有空气层，也不影响涂层测厚仪的工作，只是精度会有一些影响。
但是使用涂层测厚仪测量单一物体厚度时，对基体和单一物体或者是仪器来说都是有一定要求的。如果使用磁性法涂层测厚仪进行测量，此时的覆盖层即单一物体应该为非磁性覆盖层，若同是磁性物体那么测量会失败。如果使用涡流法涂层测厚仪进行测量时，此时的覆盖层即单一物体应该为任意绝缘涂层厚度，即“涂层”表面不会产生电涡流。除上述的两个要求以外，还有两个硬性要求，第一，这种被测量的单一物体上下表面均为平行且较为平滑的物体；第二，这种单一物体的最大厚度不能超过涂层测厚仪的测量范围1250μm，考虑到可能会存在间隙，还要再薄一点。且如果是磁性测厚法最小厚度应该为200μm，非磁性的为50μm以上才能够测量出来。
总结：使用涂层测厚仪是可以测量单一物体的厚度的，但这种情况测量时测量过程较为复杂，且容易出现较大的偏差，而且还有着有使用限制。与其使用涂层测厚仪对单一物体厚度进行测量，还不如直接使用游标卡尺或者是测厚规、千分尺之类的机械式测量仪器对其进行测量。因为我们在实际测量过程中，效率也是重要的影响因素，不能南辕北辙。
